VeEx VePAL TX300S Portabel OTN, SDH/SONET, Ethernet og Fiber Kan

VeEX VePAL TX300S er en multi-service test løsning for OTN, SDH, SONET, PDH, DSN og mobile backhaul nettverk. Utstyrt med SyncE, 1588v2 PTP, og CPRI / OBSAI testmuligheter, tilbyr enheten enestående synkronisering, test av ytelse på overføringskapasitet, og feilsøking funksjoner for alle transportnett og for eksempel mobiloperatører som vil migrere til 4G LTE.Motoren i TX300S er systemet VeExpress1, som gjør brukerne i stand til å dele test optioner mellom flere enheter, enten optionen er kjøpt eller leaset, her kan du spare kostnader og samtidig å tilpasse instrumentet til den test option du har bruk for både kortsiktig og langsiktig.- Høy oppløst farge berøringsskjerm med grafisk brukergrensesnitt, som er synlig under alle lysforhold- Test tilkoblingsmulighet via 10/100Base-T administrasjonsgrensesnitt, Wi-Fi, Bluetooth , eller minnekort for back Office –programmer- Rask overføring av testresultater til USB- minnepinne, Bluetooth , eller FTP opplasting- Utskiftbare Li-ion batteripakker øker test tiden ute i felt- Enkel eller dobbel test port konfigurasjon er tilgjengelig for alle test hastigheter- Dobbel test port konfigurasjon gir mulighet for å kjøre to uavhengige tester samtidig- VeExpress system for administrasjon av test optioner på instrumentet for deling og vedlikehold mellom andre instrumenter- Støtter R-server system for sentralisert arbeidsstyrke med ledelse, testresultatet analyse og arkivering av resultater- Optisk atomklokke for applikasjoner med høy stabilitet der 1 punkt per million kreves- Valgfri GPS -mottaker for en veis forsinkelses måling og bruk som en referanseklokkekilde- RS232C -grensesnitt til en ekstern GPS -enhet for å motta ToD og synkronisert klokke- Innebygd mikrofon og høyttaler for VoIP , VF , og ISDN PRI programmerFeaturesOTN/SDH/PDH- SDH/SONET Optical testing for STM-0/1/4/16/64 and OC1/3/12/48/192- SDH/SONET Electrical testing for STM-0/1E (STS-1/3)- OTN testing for ODU0, ODU Flex, OTU1, OTU2, OTU1e/OTU2e mappings- PDH testing at E1, E2, E3, E4 / DS1, DS3- Dual PDH and DSn receive ports- Non-intrusive Pulse Mask Analysis at E1, E3 and DS1, DS3 rates- Optical Power, Electrical Level and Frequency measurements- Path Trace and Pointer Generation and Analysis- Automatic Protection Switching and Service Disruption- Round Trip Delay on all test interfaces and associated payload mappings- Overhead Monitoring and Byte capture/decode- Tandem Connection Monitoring- Jitter/Wander Analysis (E1, E3, DS1, DS3 and STM-1o, OC-3)